Je dois tester la résilience de certains codes de lecture/écriture pour du matériel embarqué. Comment pourrais-je sacrifier quelques cartes SD et casser plusieurs secteurs connus pour une étude contrôlée ?
La seule chose à laquelle je peux penser est d'écraser un seul secteur plusieurs millions de fois. Je me demande si un script Linux badblocks peut être créé pour exécuter son test destructeur sur un seul secteur de manière répétée pendant plusieurs heures.
Normalement, avec les cartes SD/uSD, ils mettent en œuvre la nivellement d'usure donc cela pourrait être assez difficile. En fonction du type (cellule à couche simple, multilayer, TLC, 3D-NAND, etc.), le cycle d'écriture nécessaire pour la casser assez pour épuiser le pool de secteurs peut être dans les multiples de To.
J'ai effectivement testé cela avec une Pro Duo de 4 Go, 64 Go et 256 Go, un SSD et une clé USB, le 64 Go K---s--- utilisant 4 puces Micron de 16 Go a duré environ 3,84 To avant de tomber en panne avec une seule erreur logicielle dans la zone FAT. Le 256 Go a duré un peu moins mais j'estimerais sans accès direct aux puces qu'il a peut-être écrit environ 5 To avant de finalement céder avec une corruption du MBR mais il n'était pas clair si le contrôleur en était la cause car il fonctionnait solidement en mode USB3 mais avait plus de problèmes lors de la lecture en USB2 et il fonctionnait aussi très chaud. Le Duo de 4 Go a échoué dans le lecteur lors de la copie des données, encore une fois, je ne peux pas être sûr mais cela équivaudrait peut-être à 6 ans d'utilisation et l'appareil photo affichait également des messages de "Récupération". En passant, varier la tension d'alimentation pendant l'écriture fera échouer beaucoup plus rapidement. Ma microSD de 128 Go a échoué après environ 2 ans d'utilisation avec des symptômes similaires, avait également un excès de consommation électrique et de chaleur mais les données ont bien été lues et écrites.
Notes non pertinentes sur les expériences aux rayons X supprimées.
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